镀层测厚仪

仪器介绍 适用于Windows®2000或选择适用于Windows® XP的真Win32位程序带在线帮助功能 频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用 能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化 画中画测试件查看和数据显示，带快速移动焦距功能放大试件图像；计算机生成的刻度化的瞄准十字星，并有X-射线光束大小指示器（光束的大小取决于测量的距离） 图形化的用户界面，测试件的图像显示可插入于测试报告中 测量模式用于： 单、双及三层镀层系统 双元及三元合金镀层的分析和厚度测量 双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度和合金成分都能被测量） 能分析多达四种金属成分的合金和电镀液中金属离子含量； 可编程的应用项图标，用于快速应用项选择 完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估 报告生成，数据输出 语言可选择：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，及中文 菜单中的某些选择项可授权使用 主要特点 FISCHERSCOPE® XUL®设计为X-射线管和探测器系统位于测量台下部。因此测量方向从下往上。这也就提供了一个重要的优点，尤其对于测量各种不同几何外形的小工件，或各种各样的线路板、引线框架以及电连接器的微小部位测量 。在绝大多数情况下，被测试工件的表面可直接放置于测量台上，这就避免了在从上往下测量系统中需要的测量距离调整。测试点会自动地调整在正确的距离上。这就加快了测量的过程并且避免了由于工件定位不佳可能造成的测量误差。- FISCHE是唯一一家实现了这种设计的X-射线荧光镀层厚度测试仪器的制造厂商。 与WinFTM® V.6 软件及校样标准块Gold Assay配合，XUL® 作为FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分，可以完美地适应于快速，非破坏性和精确的测量珠宝及贵金属中金的成分。 XULM使用了高能量的X射线管，即便是测量微小面积时也能有很强的X射线照射到被测样品上，以保证测量的精确度。