涂层测厚仪

Elcometer345涂层测厚仪为应用非常广泛的仪器。具有整体式与分离式两种形式探头,可测量铁基(F)、

非铁基(F)或铁基及非铁基(FNF)材料的涂层厚度,总会有一种仪器满足用户的各种要求。

该仪器按照操作者角度进行设计,使用简单。用户可自定义简单的数据统计,可复查平均值、标准偏差、读数的个数和最大、最小读数。这些统计数据可以打印输出。

*键盘锁住功能可防止意外事件发生,避免重新校准。

*mm或um与mils可相互转换

*整体式仪器采用“大脚”探头,性能更加稳定

*是平面、曲面和喷砂表面

*读数率快

*两点校准