NP-AFM原子力显微镜

NP-AFM是一套完整的纳米形貌系统，它包括扫描样品所需的所有附件：显微镜平台，电子控制箱，电脑，探针，手册和视频显微镜。最大样品可达到200mmX200mmX20mm，同时为了适应更多样品的测试，我们提供几种扫描平台可供选择。

-          纳米形貌AFM针对于技术样品，晶片和盘。

-          提供三种样品台，以满足不同样品的测试，最大范围可达200mmX200mmX20mm。

-          集成高分辨率视频显微镜。

-          XY线性方向压电陶瓷扫描器。

-          提供标准尺寸AFM探针。

-          包括振动和非振动模式，侧向力模式和相位成像模式。

-          使用电机直接驱动针尖逼近。

-          使用labview-based软件直观的获取图像。

该系统使用工业标准轻杠杆力传感器，包括了所有的标准扫描模式。振动模式用于高分辨率和较软的样品；非振动模式用于常规扫描。包括了相位模式和侧向力模式。

LabVIEW作为控制软件，可以很容易和直观的使用。整个扫描过程为用户提供了不同的窗口：预扫描窗口帮助校准探针，扫描窗口用于获取图像，力位置窗口收集图像，系统窗口可以设置系统参数。

可以使用NP-AFM作为技术样品的常规扫描，比如晶片，盘，或者纳米技术的研究。