X射线实时成像

　　X射线实时成像|北京新卓仪器有限公司专业销售，XT-V 160-高品质PCB检测系统，电子检测用纳米技术(NanoTech) X射线系统，是利用X-Tek 20年纳米级焦点X射线技术方面的经验研制开发的产品，非常适用于生产线上和故障分析实验室内电子零部件的检测，更多详情可参阅http://www.bjxzyq.com。

　　XT V 160是一款通用工具，使操作人员很方便地利用该系统的手动和编程检测功能。最为重要的是，它可用于计算机断层扫描CT检测，根据其完整的三维图像，重构该试样。设计用于100% BGA和μBGA 检测，多层板检测和PCB焊接点检测，XT V 160 X射线检测系统是一个使用简便，分辨率高和成本低廉的检测解决方案，是检测实验室必不可少的骨干设备。

　　X射线实时成像检测系统--XT -V 160 检测优点：操作使用直观，能在很短的时间内获得高质量图像，市场领先的放大倍数，适用于100%板检测，75°倾斜视角(板平面的方位角为15°)，购置成本低，安全装置，可作为设计标准，占用空间小。

　　最大kV： 160 kV

　　最大电子束功率 ：20W

　　X 射线焦点尺寸 ： 1μm

　　缺陷识别能力 ： 500nm

　　几何放大倍率 ：2x - 2400x

　　系统放大倍率 ：36.000x 系统放大倍率

　　成像系统(标配) ： 16 位 100 万像素双视场成像

　　成像系统(选购) ： Varian 1313 或 2520 数字平板

　　操控装置 ：5 轴

　　旋转轴附带 ： 选购

　　倾斜 ： 0 - 75 度

　　检测范围 ：单个图像中：406×406mm (16×16”) 最大绝对值：711×762mm (28×30”)

　　最大样本重量 ：5kg (11lbs)

　　尺寸 ：(B×W×H) 930×2231×1975mm (37×88×78”)

　　重量：1935kg (4265lbs) 1150kg (2425lbs)

　　辐射安全性：<1μSv/hr，距机柜表面 5 cm 处<1μSv/hr，距机柜表面 5 cm 处

　　控制：Inspect-X 控制和分析软件Inspect-X 控制和分析软件

　　自动功能：是

　　与 CT 配合使用：是，需要在现场升级机器

　　X射线实时成像应用自动检测 BGA、μBGA、覆晶和装载了电子元器件的 PCB 电路板