日本电子电制冷X荧光分析仪

元素范围 Na - U

X射线管 5-50kV, 1mA, 50W

靶 Rh

滤波机构 4种自动交换(包括Open)

准直器 1mmΦ,3mmΦ, 7mmΦ

探测器 电制冷型Si(Li)半导体探测器


样品室尺寸 300 mmΦ x 150mmH

样品室环境 大气， 真空（可选）

操作系统 Windows XP(英文或日文)，19寸彩色显示器

主要附件 能量校正样品/强度校正样品/检查样品

设备电源 单相AC100V±10%，单相AC220V±10%， (可选)1.5KVA

1. 实现高灵敏度・微少成分的分析・短时间测定！
o 采用新光学系统与高分辨率 Si(Li) 型检测器。检测器分辨率保证在149eV以下。(业界最好的保证分辩率)

o 最新开发的针对RoHS用X射线滤波器。
减除了X射线管发出的干扰波峰以外，实现了波峰背景的低减与避免共存元素影响。

2. 内置标配塑料和金属的检量线。用户不需要再做！

o 通过设备的校正功能，配置的各种检量线长期使用完全有效。一般的保守也特别简单

3. 简单方便的操作系统

o 按一键就完成测定!

4. 材料元素 Monitoring 系統

o 实现样品形状/厚度/面积和材料性质补正都自动进行。
在业界最多补正功能，分析结果有信心

JSX-3100R是日本电子株式会社推出的新一代高性能能量分散型荧光X射线元素分析仪。该设备具有出众性能指标，不仅能很好对应RoHS指令、ELV指令和其它环境指令相关元素分析，指令以外的一般元素也能在高感度下测试分析。电制冷技术，省去添加液氮的麻烦。