德国菲希尔X-射线镀层测厚仪

德国菲希尔X-射线镀层测厚仪FISCHERSCOPE^®XUL^®设计为X-射线管和探测器系统位于测量台下部。因此测量方向从下往上。这也就提供了一个重要的优点，尤其对于测量各种不同几何外形的小工件，例如螺丝、螺母、螺栓或各种各样的电连接器。在绝大多数情况下，被测试工件的表面可直接放置于测量台上，这就避免了在从上往下测量系统中需要的测量距离调整。测试点会自动地调整在正确的距离上。这就加快了测量的过程并且避免了由于工件定位不佳可能造成的测量误差。- FISCHE是唯一一家实现了这种设计的X-射线荧光镀层厚度测试仪器的制造厂商。

德国菲希尔X-射线镀层测厚仪德国FISCHER X-RAY设备遵循ASTM B568，DIN ENISO 3497国际标准，主要基于WinFTM™ V6L核心控制软件的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。采用全新数学计算方法,采用最新的FP（Fundamental Parameter）、DCM (Distenco Controlled Measurement)及强大的电脑功能来进行镀层厚度的计算，在加强的软件功能之下，简化了测量比较复杂镀层的程序，甚至可以在不需要标准片之下，一样精准测量。

典型的应用范围如下：

单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。 二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。 三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。 双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。 双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。 最多24种镀层（使用WinFTM^®V.6软件）。 分析多达4种（或24种－使用V.6软件）元素。 分析电镀溶液中的金属离子浓度。