754型紫外可见分光光度计

754型紫外可见分光光度计

754型紫外可见分光光度计

754型紫外可见分光光度计

型号 754型紫外可见分光光度计
单色器系统 Czerny-Turner 单光束光栅
1200 L/mm
波长范围 195-1020nm
波长设置 手动
波长误差 ±2nm
波长重复性 1nm
测量范围 0-199．9%T, 0-2.0A, 0-1999C(0-1999F)
测光精度 ≤0.5%T
测光重复性 ≤0.2%T
杂散光 ≤0.3%T@340nm&220nm
带宽 4 nm
数据输出 RS-232，含软件可接电脑
重量 10kg
LCD 0.8” 4 data
扫描软件主要功能
有定量分析.时间扫描.波长分析.多波长分析.，辅助功能有光谱运算（加减乘除）.光谱导数.光谱叠加等等。
1.1 主要功能
定量分析
?2种方法可选建立标准曲线：系数法和标准样品标定法。
?最多可以用20个标准样品来自动标定标准曲线或者直接输入曲线方程系数来建立标准曲线。
?标准曲线可用3种方式拟合（一阶线性过零拟合.一阶线性拟合和二阶拟合）。
时间扫描
?采样时间间隔可选（0.5，1.0，2.0，5.0，10.0，30.0和60.0秒）
?扫描曲线显示方式可切换（时间-透过率或时间-吸光度）
波长扫描
?扫描间隔可选（0.1，0.2，0.5，1.0，2.0和5.0nm）
?扫描曲线显示方式可切换（波长-透过率，波长-吸光度和波长-能量）
?波长扫描系统基线可存储.调用
多波长分析
?多达15个波长可设定
1.2 光谱处理
光谱数据显示
?可移动光标至屏幕中光谱位置，相应的数据将显示
峰值谷值自动查找
?扫描结束后，可自动查找峰值和谷值，并且将数据结果显示在列表中，结果也相应在图谱中显示
缩放图谱查看
?图谱的坐标X和Y可通过[设定]中来修改。
导数光谱
?可对给定图谱计算并显示一阶到四阶导数图谱。在吸光度模式下，导数光谱是一种极为有效的方法。
光谱运算
?可对两个给定的图谱进行加.减.乘.除运算，结果现在为图谱。
暗电流检测
?可重新测定仪器的暗电流