| 是否提供加工定制: | 是 | 品牌: | HP821 |
| 型号: | HP821 | 类型: | 光电性能快速测 |
| 测试范围: | 0.1mA ~ 800.0m A | 测量时间: | 0.1mA ~ 800.0m A |
| 测量精度: | 0.1mA ~ 800.0m A | 电源电压: | 0.1mA ~ 800.0m A(VHZ) |
| 适用范围: | 为 LED 生产厂商提供充分的 LED 光、电参数,使 LED 的研制和生产更加有效、可靠。 |
HP821 LED光电性能快速测试系统
专用于测量 LED 的配光曲线( LED 光强分布)、光束角、法向光强、正向电压、反向电流、反向击穿电压等光电参数,符合 CIE pub.No.127 条件 A 或 B 。 正是在满足 CIE 标准的基础上研制的 LED 光强空间分布测试系统,符合 CIE pub.No.127 条件 A 和条件 B 。本系统实现了 LED 的光、电性能的高精度测试,为 LED 生产厂商提供充分的 LED 光、电参数,使 LED 的研制和生产更加有效、可靠。
性能参数:
正向电流 (I F ) : 0.1mA ~ 800.0m A ;正向电压 (V F ) : 0.01V ~ 20.00 V反向电流 (I R ) : 0.01 μ A~200 μ A ;反向电压 (V R ) : 0.1 V~ 20.00 V反向击穿电压:0.1 V~ 20.00 V预热时间:0-9999ms光强测量范围:0mcd-9.999cd符合CIE-127-1997测试条件A。配合积分球可实现光通量测量

HP821 LED光电性能快速测试系统
专用于测量 LED 的配光曲线( LED 光强分布)、光束角、法向光强、正向电压、反向电流、反向击穿电压等光电参数,符合 CIE pub.No.127 条件 A 或 B 。 正是在满足 CIE 标准的基础上研制的 LED 光强空间分布测试系统,符合 CIE pub.No.127 条件 A 和条件 B 。本系统实现了 LED 的光、电性能的高精度测试,为 LED 生产厂商提供充分的 LED 光、电参数,使 LED 的研制和生产更加有效、可靠。
性能参数:
正向电流 (I F ) : 0.1mA ~ 800.0m A ;正向电压 (V F ) : 0.01V ~ 20.00 V反向电流 (I R ) : 0.01 μ A~200 μ A ;反向电压 (V R ) : 0.1 V~ 20.00 V反向击穿电压:0.1 V~ 20.00 V预热时间:0-9999ms光强测量范围:0mcd-9.999cd符合CIE-127-1997测试条件A。配合积分球可实现光通量测量

HP821 LED光电性能快速测试系统
专用于测量 LED 的配光曲线( LED 光强分布)、光束角、法向光强、正向电压、反向电流、反向击穿电压等光电参数,符合 CIE pub.No.127 条件 A 或 B 。 正是在满足 CIE 标准的基础上研制的 LED 光强空间分布测试系统,符合 CIE pub.No.127 条件 A 和条件 B 。本系统实现了 LED 的光、电性能的高精度测试,为 LED 生产厂商提供充分的 LED 光、电参数,使 LED 的研制和生产更加有效、可靠。
性能参数:
正向电流 (I F ) : 0.1mA ~ 800.0m A ;正向电压 (V F ) : 0.01V ~ 20.00 V反向电流 (I R ) : 0.01 μ A~200 μ A ;反向电压 (V R ) : 0.1 V~ 20.00 V反向击穿电压:0.1 V~ 20.00 V预热时间:0-9999ms光强测量范围:0mcd-9.999cd符合CIE-127-1997测试条件A。配合积分球可实现光通量测量

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专用于测量 LED 的配光曲线( LED 光强分布)、光束角、法向光强、正向电压、反向电流、反向击穿电压等光电参数,符合 CIE pub.No.127 条件 A 或 B 。 正是在满足 CIE 标准的基础上研制的 LED 光强空间分布测试系统,符合 CIE pub.No.127 条件 A 和条件 B 。本系统实现了 LED 的光、电性能的高精度测试,为 LED 生产厂商提供充分的 LED 光、电参数,使 LED 的研制和生产更加有效、可靠。
性能参数:
正向电流 (I F ) : 0.1mA ~ 800.0m A ;正向电压 (V F ) : 0.01V ~ 20.00 V反向电流 (I R ) : 0.01 μ A~200 μ A ;反向电压 (V R ) : 0.1 V~ 20.00 V反向击穿电压:0.1 V~ 20.00 V预热时间:0-9999ms光强测量范围:0mcd-9.999cd符合CIE-127-1997测试条件A。配合积分球可实现光通量测量

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