X荧光光谱仪

性能特点

专业贵金属检测、镀层厚度检测。

智能贵金属检测软件，与仪器硬件相得益彰。
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序。

技术指标

元素分析范围：从钾（K）到铀（U）。
测量对象：固体、液体、粉末
分析检出限可达：1ppm。
分析含量一般为：1ppm到99.9％。
多次测量重复性可达：0.1％。
长期工作稳定性为：0.1％。

标准配置

单样品腔。

正比计数盒探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。

应用领域

黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。
金属镀层的厚度测量和电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。