重庆 电子元器件温度冲击试验箱

加工定制：	是	品牌：	KSUN
型号：	EET	类型：	冷热冲击试验机
重量：	250（kg）

一、重庆 电子元器件温度冲击试验箱产品用途:http://www.ksun17.com/cpzs/xws/

适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此装备试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。高低温冲击试验箱是航空、汽车、家电、科研等领域必备的测试设备，考核和确定电工、电子、汽车电器、材料等产品，在进行高低温试验的温度环境冲击变化后的参数及性能，使用的适应性，适用于学校，工厂，军工，研位，等单位

二、重庆 电子元器件温度冲击试验箱结构特点:

全部功能采用计算机控制，系自主开发的软件，有良好的操作界面，使用户的操作和监测都更加简单和直观，保持功能可以使你正在运行的程序保持在目前的状态下，可以临时更改此程序段的数值，可以在屏幕上设置时间和参数，使制冷、加热、提蓝传送切换，按设定值自动进行。

热箱独立控制，箱门互相独立，扩大试验箱的使用范围(一箱三用)。

产品保温效果可以得到充分保证。

试验箱门与循环风机，提蓝传动等互锁，保护操作者的安全，一旦打开箱门，循环风机和提蓝传动的电源会被自动切断。

三、重庆 电子元器件温度冲击试验箱符合标准:

符合GB/T2423.1.2-2001 GJB150.5GB10592-89相关标准。

重庆 电子元器件温度冲击试验箱技术参数：

规格型号 30(A-D) 49(A-D) 80(A-D) 150(A-D) 252(A-D) 480(A-D)
高温槽温度范围 +60 ~200℃.
低温槽温度范围 A：(-55～-10℃). B：(-65～ -10℃). D：(-80～ -10℃).
实验箱冲击温度 高温 +60～150℃
低温 A：(-10～ -40℃) B：(-10～ -55℃) D：( -10～ -65℃)
升温时间 60~200℃小于35分
降温时间 A：+20～-55℃小于75分 B：+20～-65℃小于80分 D：+20～-75℃小于90分.
冲击恢复时间 高温(150℃)冲击30分钟.
低温(-40℃or-55℃or-65℃)冲击30分钟.
冲击恢复时间： 5分钟以内.
风门开启时间 3秒以内
试样重量 1.0Kg 2.5Kg 5Kg 8Kg 10Kg 15Kg
重庆 电子元器件温度冲击试验箱标准型号和尺寸(也可按客户要求生产)(单位:mm)：
型号EET-27L 内形尺寸:W×H×D 300×300×300 外形尺寸：1200×1660×1020
型号EET-50L 内形尺寸:W×H×D 360×350×400 外形尺寸：1650×1790×1440
型号EET-80L 内形尺寸:W×H×D 500×400×400 外形尺寸：1790×1850×1440
型号EET-108L内形尺寸:W×H×D 600×400×450 外形尺寸：1800×1800×1500
型号EET-150L内形尺寸:W×H×D 600×500×500 外形尺寸：1800×1890×1540
型号EET-250L内形尺寸:W×H×D 700×600×600 外形尺寸：1900×2050×1650
型号EET-408L内形尺寸:W×H×D 1000×650×750 外形尺寸：2000×2300×2600
型号EET-560L内形尺寸:W×H×D 1000×700×800 外形尺寸：2000×2400×2700

内箱材质： SUS 304#镜面不锈钢板.
外箱材质：特殊防锈处理之钢板喷塑或SUS 304#纹路处理之不锈钢.
保温层： PU发泡.
底座国标角铁+国标槽钢.
标准配置：测试孔(￠50x1只),试料架(2组) .
功率(约Kw) 12 16 24 40 52 65
重量(约㎏) 900 1100 1350 1600 1950 2550
电源： AC3￠5W380V50HZ.

注：1、箱顶有标准孔管，主要为了向箱内引入传感器线，检测电缆等引线，方便用户使用。2、以上数据均在环境温度(QT)25℃?工作室无负载条件下测得免费送货上门，并安装调试操作介绍(直到需方员工独立操作并满意为止)

重庆 电子元器件温度冲击试验箱，东莞市庆声试验设备有限公司http://www.ksun17.com/专业生产！