测厚仪 XRF-2000 X射线镀层测厚仪、金属镀层测厚仪

金属镀层膜厚仪

应用:

适用于线路板,五金电镀,电子元器件等行业

产品简介:

XRF-2000能提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱超值，同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果，甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的首选。可测量各类金属层、合金层厚度等。

可测元素范围：钛(Ti) –铀(U)原子序22 – 92。

准直器：固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm方型1×0.4mm

自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm方型0.05×0.4mm

一．韩国Micro Pioneer XRF-2000系列X射线测厚仪（全新原装进口）

XRF2000能提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱超值，同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果，甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的首选。可测量各类金属层、合金层厚度等。

可测元素范围：钛(Ti) –铀(U)原子序22 – 92。

准直器：固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm方型1×0.4mm

自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm方型0.05×0.4mm

电脑系统：DELL品牌电脑,17寸液晶显示器，惠普彩色打印机

综合性能:镀层分析定性分析定量分析镀液分析统计功能

电脑系统：IBM相容,17”显示器

综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析

镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.

镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.

定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.

光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.

统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.