半导体静电放电发生器|ESD-606A

半导体静电放电发生器(器件敏感度 ESD-606A)专门为半导体器件抗静电测试(HBM人体模式和MM机械模式）而设计，通过阻容套件的改变来满足标准  MIL-STD-883D METHOD3015.7、EIAJED-4701 ConditionB 和 EIAJED-4701 ConditionA 的测试要求。人性化设计、使用方便。

详情请登陆网站查询: http://www.sztest.cebiz.cn

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项  目         MIL-STD-883D/METHOD3015.7 /IEC747-1 EIAJED-4701

输出                    电压0—8kV

输出                    电压极性正/负

放电电容            100pF±5%/200pF±5%

放电电阻               1.5kΩ/0 Ω

工作形式               单次/计数

放电次数设定            1～9999

放电间隔               0.1～9.9s