| 与外部时钟同步(固定和可变延迟)2ns可变跃变时间,在50Ω上达10Vpp(开路为20Vpp)达500ps(ECL)的快速跃变2ps定时分辨率0.01%的频率准确度任何定时参数变化时无毛刺和陷落脉冲、脉冲列、模式（数据）工作方式，数据序列可增加模拟或数字通道1或2个通道4种型号的软件100%兼容 Agilent 81100脉冲/数据发生器家族使用同样的工作方式（前面板和程序），并与广为使用的8110A兼容，以保护您当前和未来的投资。81110A作为81104A和81101A的超集使随未来需要的增长非常容易。 用于测试数字设计和部件的信号 81100家族可产生测试当前逻辑技术（CMOS,TTL,LVDS,ECL等）所需的所有标准脉冲，多电平波形，数字模式和数据，并可达660MHz。除81130A外，所有型号都可通过无毛刺和陷落的定时参数改变而连续工作。 平稳地集成到自动测试系统 各种附件，以及81101A和81104A 100%向上的兼容使81110A只需通过仪器的物理改变就可随未来的需求而成长。 技术指标 | 主机 | 81104A | | 输出通道 | 81105A | | 定时1 | | | 频率范围 | 1mHz-80MHz | | 50Ω源2 | 50MHz典型值 | | 最大数频率 | 160Mbit/s | 定时
分辩率
| 3.5字
最好情况为5ps | | 带PLL的精度(不带时) | 0.01%(5%)3 | 带PLL的抖动RMS
(不带时) | 0.001%+15ps (0.01%+15ps)3 | | 宽度范围 | 6.25ns至
(周期-6.25ns) | | 精度 | ±5%±250ps | | 时滞 | N/A | 延迟
(外输入至输出)
(外输入至触发输出) |
27ns固定值
12ns固定值 | 附加变量延迟范围
精度4 |
0ns至(周期-12.5ns)
±5%±0.5ns | 双脉冲
延迟范围 | (宽度+6.25ns)至
(周期-宽度-6.25ns) | 跃变时间
范围(10/90)
在1kΩ源阻抗 | 3ns至200ms
可变
5ns典型值 | | 电平/脉冲性能5 | | 幅度
50Ω在50Ω上
1kΩ在50Ω上 |
100mVpp-10.0Vpp
200m Vpp-20.0Vpp | 电平窗
1kΩ在50Ω上 | -10.0V~+10.0V
-20.0V~+20.0V | 精度
50Ω在50Ω上
1K Ω在50Ω上 |
±(3%+75mV)
±(5%+150mV) | 输出
连接器 | BNC单端 | | 源阻抗精度 | 可选50Ω或1kΩ
±1%,典型值 | | 最大外电压 | ±24V | | 短路电流 | ±400mA最大
(通道增加时加倍) | 动态串扰
基线噪声
过冲/脉冲/振铃 | <0.1%典型值10mV
RMS典型值
±5%幅度
±20mV | | 模式/数据能力 | 16Kbit/通道
和选通输出 | | 序列 | N/A | | 格式 | RZ,NRZ,DNRZ | | 脉冲列 | 单或双脉冲脉冲数2-65536 | | 触发方式 | 连续触发(外,内,手动)
门控(外,内,手动)
外宽度 | | 输入 | PLL基准输入,时钟输入,外输入 | | 负载补偿 | 可送入实际负载值以显示实际输出 | | 其它输出 | 触发输出,
选通输出(16Kbit用户可定义模式) | | 极限 | 可编程的高和低电平,以保护被测设备 | | 通道增添 | 模拟 | 1以连续工作和50Ω源阻抗在最快跃变的50%幅度处测量
2对81005A和8111A，源阻抗可选为50Ω或1kΩ
3若使用可起振振荡器(PLL未激活)
4恒定幅度
5电平指标在5ns(81112A,81131A)或30ns(81111A,81132A)典型稳定时间后有效
6在±19V窗内施加脉冲
7仅适用于内部通道添加 | | 模拟通道增添 | 81104A,带两个输出模块
(81105A) | 幅度
50Ω在50Ω上
1kΩ在50Ω上 |
100mVpp至20.0Vpp
200mVpp至20.0Vpp | | 源阻抗 | 可选50Ω或1kΩ | 电平窗50Ω在50Ω上
1kΩ通道 | -20.0V至20.0V
-20.0V至20.0V | 最大频率50Ω通道
1kΩ通道 | 60MHz典型值
15MHz典型值 | 最小跃变50Ω通道
1kΩ通道 | 2.5ns典型值(单通道),
5ns典型值(双通道)
20ns典型值,在两个通道上 |
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