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| 加工定制：是 | 类型：薄膜测厚仪 | 品牌：Labthink兰光 |
| 型号：CHY-C2 | 测量范围：0～2 mm（常规）；0～6 mm；12 mm（可选）（mm） | 显示方式：液晶数显 |
| 电源电压：AC 220V 50Hz（V） | 外形尺寸：300 mm(L)× 275 mm(W)× 300mm(H)（mm） |
CHY-C2高精度测厚仪，可专业用于PI膜（即聚酰亚胺薄膜）、塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。CHY-C2采用接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。
CHY-C2测厚仪主要技术特征：
严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制
测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差
支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择
实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断
配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性
系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果
系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看
标准的RS232接口，便于系统的外部连接和数据传输
支持Lystem™实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告
CHY-C2测厚仪执行标准：
ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D645、 ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、 DIN 53105、 DIN 53353、 JIS K6250、 JIS K6328、 JIS K6783、 JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
CHY-C2测厚仪技术指标：
负荷量程：0～2 mm（常规）；0～6 mm；12 mm（可选）
分辨率：0.1 μm
测量速度：10 次/min （可调）
测试压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）
接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）
注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
电源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：300 mm(L)× 275 mm(W)× 300mm(H)
净重：33kg
CHY-C2测厚仪仪器配置：
标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件
选购件：专业软件、通信电缆、配重砝码盘、配重砝码
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