分体式CMI 233漆膜膜厚仪 膜厚仪 测厚仪

类型：薄膜测厚仪	型号：CMI 233	品牌：Oxford
电源电压：9（V）	显示方式：数显	加工定制：否
外形尺寸：149*79.4*30.2（mm）	测量范围：0-2.04（mm）（mm）

产品名称:分体式CMI 233漆膜膜厚仪
CMI 233连线探头涂层测厚仪/膜厚仪

品牌：OXFORD CMI(英国牛津)
简介：
□性价比优势：同类进口产品中具有很高的价格性能比
□探头：配备有世界上最优秀的检测探头
□测量精度：1%或±0.1μm依照参考标准片，分辨率：0.1μm
□测量范围：磁感应0-120mils(0-3.05mm)；涡流0-60mils(0-1.52mm)

产 品 介 绍

订购编号：20706 CMI233(单探头) / 20707 CMI233(双探头)
用途：广泛应用于喷涂电镀、涂料涂装、汽车、石化管道、造船、电器、防腐等行业中的表面涂层及各种薄膜厚度的测量
CMI 200型测厚仪是高科技电子技术和软件的最佳组合，多功能、耐用的设计，专为适应最恶劣的工作环境而制造，典型应用于表面处理工业。
CMI 200以经济的价格为您提供对涂镀层厚度的准确、高效的监控。
 

 

用途	广泛应用于所有非磁性涂镀层和所有非导电性涂镀层的厚度测定
测量方法	磁感应和电涡流
测量精度	1%或±0.1um依照参考标准片
测量范围	磁感应0-120mils(0-3.05mm);电涡流0-60mils(0-1.52mm)
分辨率	0.01mils(0.1um)
执行标准(磁感应)	ASTM B499&B530;DIN 50981;ISO 2178;BS 5411 PART 9&11
执行标准(电涡流)	ASTM B244&B259;DIN 50984;ISO 2360;BS 5411; PART 3
存储量	12400条读数
低铁和无铁层厚度	12mils(305um)
外型尺寸	14.9X7.94X3.02cm
重量	260g(含电池)
单位	公、英制可以转换
电池	9V电池
统计数据显示	读取次数、平均值、标准差、最高值、最低值
接口	RS-232
显示	1/2英寸背光液晶显示屏
按键	16键
扫描特征	在指定扫描时间内自动平均读数
品牌	英国牛津仪器
产地	美国

 

涂层测厚仪/涂镀层测厚仪是本公司主打销售产品之一，我们是牛津测厚仪中国一级代理，专业提供涂层测厚仪品牌、涂层测 厚仪行情、涂层测厚仪参数、涂层测厚仪应用、涂层测厚仪维修、涂层测厚仪保养、涂层测厚仪报价、涂层测厚仪售后服务等涂层测厚仪各种问题。
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常规涂层测厚仪的原理：

　　对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在有关国家和国际标准中称为覆层（coating）。

　　覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。

　　覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

　　X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

　　随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用最广泛的测厚仪器。

　　采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。

　测量原理与仪器

　　一． 磁吸力测量原理及测厚仪

　　永久磁铁（测头）与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系，这个距离就是覆层的厚度。利用这一原理制成测厚仪，只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型，所以磁性测厚仪应用最广。测厚仪基本结构由磁钢，接力簧，标尺及自停机构组成。磁钢与被测物吸合后，将测量簧在其后逐渐拉长，拉力逐渐增大。当拉力刚好大于吸力，磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。新型的产品可以自动完成这一记录过程。不同的型号有不同的量程与适用场合。

　　这种仪器的特点是操作简便、坚固耐用、不用电源，测量前无须校准，价格也较低，很适合车间做现场质量控制。
　　二． 磁感应测量原理

　　采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大（如钢上镀镍）。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术，利用磁阻来调制测量信号。还采用专利设计的集成电路，引入微机，使测量精度和重现性有了大幅度的提高（几乎达一个数量级）。现代的磁感应测厚仪，分辨率达到0.1um，允许误差达1%，量程达10mm。

　　磁性原理测厚仪可应用来精确测量钢铁表面的油漆层，瓷、搪瓷防护层，塑料、橡胶覆层，包括镍铬在内的各种有色金属电镀层，以及化工石油待业的各种防腐涂层。

　　三． 电涡流测量原理

　　高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。

　　采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍（如铜上镀铬）。虽然钢铁基体亦为导电体，但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。