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数显薄膜测厚仪 CHY-C2测厚仪 数显厚仪 薄膜测厚仪

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公司: 深圳市方源仪器有限公司 
品 牌: 方源
型 号: CHY-C2 
单 价: 面议 询价 
最小起订量:    
供货总量: 100
发货期限: 自买家付款之日起 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2013-08-14
相关信息
 
产品详细说明
加工定制:否 类型:数字式测厚仪 品牌:方源
型号:CHY-C2 测量范围:0~6(mm) 显示方式:数显
电源电压:220(V) 外形尺寸:300(L)×275(B)×300(H)(mm)  

测厚仪CHY-C2

适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片等各种材料的厚度精确测量。特征:·机械接触式测量方法,不受测量材料的限制·进口优质传感器,测量分辨率高达0.1微米·进口优质传动元件,保证了试验结果的稳定性、 准确性·测量头对薄膜(纸张)的接触面积、接触压力严格 遵循相关标准·特殊结构设计,保证上下测量平面的平行·灵活、方便的配重方式更能满足范围更宽的测量, 非标试验易于实现·试验数据大屏幕液晶显示,操作按键人性化设计·可设置手动、自动两种试验模式,测量结果自动 统计、打印·具有电脑通信接口·兼容ISO、ASTM等多种测量标准结构组成:  本试验仪主要由控制系统、测量系统、打印输出系统三部分组成。测量系统对薄膜进行测量,并 输出相应电信号;控制系统用以参数的设定、修改、传输信号的处理、测量结果的显示等;打印输出系统的功能是统计结果的输出,打印试验结果。功能原理简述:  本试验仪采用目前世界测量领域最先进的技术成果,确保测量结果的高精确性,多次测量结果的高度一致性;且操作调试极其方便,几近于自动化操作,最大限度地减少了人为因素对测量结果带来 的影响;对于单次测量,仅打印输出测量结果,对于多次测量,可对测量结果进行统计、分析、打印输出;接触面积、测量压力、移动速度等严格遵循相关标准的规定。主要技术参数:测量范围:0~2mm(常规)(0~6mm可选)分 辨 率: 0.1μm测量速度:10次/min(可调)测量压力:17.5±1kPa(薄膜);〔50±1kPa(纸张)〕接触面积:50mm2(薄膜);〔200mm2(纸张)〕电 源:AC 220V,50Hz外形尺寸:300(L)mm×275(B)mm×300(H)mm净 重:33kg标准:GB 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASMT D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817操作步骤:上电→设置测量参数→进入测试界面→放置待测薄膜→启动测量→测量结束→打印输出 测量结果→试验结束注:本测量仪有记忆功能,若下次测量参数与上次相同,可直接进入测量,无须再进行参数设置。配置:标准配置:主机、标准量块一件选 购 件:通信软件、配重砝码盘、配重砝码(用户要求)具体型号具体价格欢迎来电咨询!
公司联系方式
  • 深圳市方源仪器有限公司 [加为商友]
  • 联系人fyyq0755(先生) 市场销售 
  • 地区广东-深圳市
  • 地址深圳市南山区登良路62号南园综合楼
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