膜厚检测仪，镀层膜厚测试仪，镀层测厚仪，电镀设备

美国MATRIX手提式 X-射线镀层测厚仪
全球第一款手提式 X-射线镀层测厚仪
这一款手提式测厚仪，在大型材料及各种形状配件镀层厚度的无损检测上有着明显的优势。
唯一具备“批量测试”模式，即一次可以测量出一批小样品的总镀层厚度及平均镀层厚度
可广泛应用于建筑材料，电子，镀金行业及公证/检测机构的镀层检测。
单、双、三层镀层的厚度测量
无论体积多大的电镀件，HMX系统是理想的解决办法
对于QC、电镀线以及实验室分析等应用的现场测量
现场的样品分析
基材管理的合金分类以及合金确认
软件：
基础参数分析（非标准和标准）：点测的关键应用"point-and-measure" Batch Measurement批量测量法功能允许对许多小部分同时进行非接触测量。
快速ID合金分析： 与合金级别和化学成分匹配的光谱信号； 库存编辑和合金识别能力；
基础参数分析(FP): 这个组合包括21种元素： 钛，铬，锰，铁，钴，镍，铜，锌，锆，铌，钼，铪，钽，铼，铅，银，锡，铋，锑等。（注意：总共可以安装25元素；还有附属的元素包括：镉，金，铂，钯，硒。）
技术数据：
电源： 可充电锂离子电池；含2块电池及充电器；AC转换器及多电池电源可选购。
X射线发生器： 银或钨靶微型X射线管；10-40kV，10-50微安
测量尺寸： 接触样品表面测量时，7.75 mm
X射线探测管： Si-PIN高分辨率探测系统
尺 寸： 长度：30cm；高度：23cm；宽度：7.5cm
重 量： 基体配置1.2kg；1.6kg带电池
参数调整：不锈钢316作为参考标准
配置说明：
微型银或钨X-射线管，5个准直器。
检测器：半导体高分辩率的检测器。
电源供应：包含两块可充电锂电池和充电器。
操作温度：-10 ~50摄氏度
FP软件测试包：测镀层薄膜厚度及金属元素分析

多年来，我们一直致力于为电镀、PCB、SMT、半导体等电子行业生产厂商及科研机构提供高性能的检测仪器和优质的技术服务。精诚仪器希望与广大客户建立更紧密的合作，提供更完善的服务