热成像仪 Ti20 美国福禄克（FLUKE）

探测器类型：

硅探测器，非制冷焦平面

准确度：

±2% 或 ±2ºC（取大者）

准确度（-10至0 C）：

+/- 3ºC

重复性：

±1% 或 ±1ºC（取大者）

NETD：

200 mK

温度显示分辨率：

0.1 ºC

光谱范围：

7.5-14 微米

目标瞄准：

单波长激光点（符合 lEC 2 类及 FDA II 类要求）

光学分辨率：

75:1

测量圆点最小直径：

8.1 mm（距离为 61cm 时）

视场(FOV)：

20º 水平 x 15º 垂直

焦点：

可聚焦，15 cm 至无穷远

温标：

可选择 ºC

色板：

灰色、反灰色、蓝红、铁红、彩虹、热金属、高对比度、蓝红、经色、琥珀色

测量模式：

可选择自动或手动

激光开/关：

随附

增益控制：

随附

级别控制：

随附

LCD背光：

可选择亮或暗

可调辐射系数：

0.10 至 1.00，步长 0.01

液晶显示：

TFT 技术，适于室内及室外使用，70.5 mm x 53.5 mm

反射背景温度：

-50 至 905ºC

操作环境温度：

-10 至 50ºC

相对湿度：

10 至 90% 不结露

存放温度：

-25 至 70ºC [不带电池]

存储能力：

100 张图像

激光开启图标：

随附

电池电量不足图标：

随附

测量模式图标：

随附

热分析软件：

InsideIR（随附）

PC软件操作系统：

Microsoft® Windows 2000® 或 Windows XP®

电源：

充电电池组（随附）

电池寿命：

至少连续使用 3 小时

数据传输：

USB 接口，50 幅图像的总传输时间仅为 25 秒

存储设备：

快速存储器

三脚架（6.35 mm (1/4) 20统一标准螺纹）

重量（包括电池）：

1.2 kg

保修：

1 年

产地：

美国

撞击防护：

半正弦波，11 ms，30 g 峰值，符合 mil-prf-28800f

振动防护：

-随机

6G

EMC：

EN 61326-1