光学结构 | 反射:d/8;SCI ( 镜面光包含 )/SCE ( 镜面光不包含 ) 可切换 ; d/8 光学结构符合 ISO 和 DIN 标准 ; d/0 之光学结构也符合 CIE 和 ASTM 标准穿透:d/0. |
侦测器 | 2 个 18 个组件硅光二极管数组 |
测量波长范围 | 可见光从 360 到 740nm 每间隔 10nm |
精确度 | 反射率从 0 到 200% Resolution: 0.001% |
光源 | 脉冲氙弧灯 |
测量时间 | 0.6-0.8 秒 . ( 从开始测量到数据输出 ) |
照明 / 测量 面积 | 反射:可更换 :LAV:ψ 28mm 照明 / ψ 25.4mm 测量 ; MAV:ψ 11mm 照明 / ψ 8mm 测量 ; SAV:5x7mm 照明 / 3x5mm 测量 ;穿透:大约ψ 20mm |
再现性 | 光谱反射率:标准偏差 ≦ 0.05% 色差值:标准偏差Δ E*ab 0.01 ≦ ( 测量条件 : 执行校正后测量校正白板 , 测 30 次每次间隔 10 秒 ) |
机台交换性 (LAV) | 最大Δ E*ab 0.08 基于 12 BCRA Series Ⅱ 色板测量值与标准机台比较 |
温度影响 | 光谱反射率:≦± 0.1%/ ℃色差值:≦Δ E*ab 0.05/ ℃ |
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UV 调整 | 计算机控制 ; 连续调整 |
穿透测量之样品 | 薄片 , 色板 , 或 液体 ( 装在容器中 ) 最大厚度不超过 50mm |
通讯接口 | RS-232C |
电源 | AC 100V/120V/230V 50/60Hz |
操作温度 / 湿度范围 | 13 to 33 ℃ (53 to 48F); 低于 80% 相对湿度无冷凝 |
储存温度 / 湿度范围 | 0to 40 ℃ (32 to 96F); 低于 80% 相对湿度无冷凝 |
体积 (W × H × D) | 271 × 259 × 500mm |
重量 | 18kg (39.7 lb.) |
标准配置 | 校正白板 CM-A90; 目标罩 (3x5mm)CM-A91 ; 目标罩 ( ψ 8mm)CM-A192; 目标罩 ( ψ 25.4mm)CM-A93; 零点校正盒 CM-A94; 变压器 AC-A12; RS-232C 通讯线 CM-a52 |
可选 配置 | 穿透测色架 CM-A96, 石英槽 (2mm) CM-A97/ (10mm) CM-A98/ (20mm) CM-A99; 穿透零点校正板 CM-A100, RS-232C 通讯线 (IBM PC) CM-A53 CM-A55 / (NEC PC) CM-A56 |
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