供应复合式三坐标测量机UD422

特点

将现代的光学测头、机械式测头及激光扫描测头集成于同一台三坐标测量机上，综合各种测头的技术特点，可完成几乎所有的几何测量任务。光学测头主要是通过高精度CCD数字摄像头，将被测物体放大后，利用最先进的图象信息处理技术，可编程控制光学照明技术，实现对工件的自动扫描寻边，表面点自动聚焦采集，自动测圆、自动对比。在对微小尺寸、薄片及刀口轮廓、易变形或不能接触的工件，工件表面图形、字符等方面的测量具有其优越性。激光扫描测头主要利用高精度的数控系统，实现在测量时对工件表面的自动跟踪，用于对任意曲面的扫描测量。

性能参数

测量范围： 400mm×200mm×200mm

允许工件重量：

玻璃工作台20kg

示值误差： E≤(2.5+L/200)μm

探测误差： P≤2.8μm

探测系统： Renishaw接触式测头系统

CCD非接触式测头系统

激光扫描探测系统

长度测量系统： Renishaw精密光栅尺

分辨率: 0.1μm/0.5μm

物镜： 高品质测量物镜

光源系统： 玻璃工作台

高精度同轴平行底光源

顶光源（可选环形光源）

工作压力： (0.4-0.6)MPa

使用环境： 温度（20±2）℃

湿度55%-65%