用Leitz测头升级您的Renishaw测头系统手动测头系统升级成自动测头系统 在工业计量中，扫描往往与自由形状表面和复杂几何体测量联系在一起，扫描同时也是一种快速有效地获取大量数据点的有效方式，利用这些点，我们可以更精确地描述几何特征。
数据密度、数据置信度和不确定度是互相关联的，随着数据点的增多，不确定度就会降低。箱体类零件由于功能拟合关系，其形状误差是至关重要的，故而其形状的测量和控制需要采集密集度尽可能高的数据点，而箱体类零件将从扫描中大大受益。
根据用户的测量需求，我们把Leitz高精度测头技术延伸到桥式测量机上，最新推出LSP-X系列测头。该测头系统使您无需更换测量机控制系统和软件，即可把现有的测量系统升级成高精度扫描系统。升级后的测量系统，将充分满足客户对于高精度、高效率、高性能的测量要求。这包括：
孔的测量：
高速扫描意味着在几秒钟之内可以获取大量的数据点，这使得孔特征的完整描述，如尺寸、位置和形状等成为可能，并可确保高的精度和重复性。另外，还可以模拟塞规和环规的尺寸，为与该孔适配的大直径的工件提供可靠的计算。 圆柱的测量：
通过在每个测量截面采集大量数据点，可以更精确地确定圆柱的形状和轴，并可以评价关键尺寸形状特征，如最大和最小特征尺寸等，以支持工件的拟合分析。
平面的测量：
扫描可以为评价形状误差和排列工件提供更多数据点，而所用的时间比传统的点对点方法少很多。结果是组装的精度提高，这一点可在总体测量精度的提高上体现出来。
LSP-X系列测头卓越的承载能力，还可以解决您的深空测量难题，长达500mm的探针加长杆，几乎是可以涵盖所有的深孔测量要求，而且可以达到很高的精度。
在现有的测量机上增加激光扫描测头
可以扩大测量的覆盖范围，并实现CAD对比检测和反求功能。PC-DMIS Laser激光扫描和检测软件使测量机成为形位公差测量、对比检测、反求测量中心：TP20、TP200、TP6等可以进行点触发测量，虽然GLOBAL以高速著称，但 面对客户大量的钣金件测量，TP20测头还是很显吃力，测量效率无法满足客户的要求。对Global测量机进行改造，安装激光扫描测头和PC-DMIS Laser. 将大幅提高检测效率。
如何在您的测量上实现PC-DMIS LASER测量?
对于PC-DMIS用户，您只需要加装一套激光扫描测头系统和PC-DMIS LASER即可，您的测量机控制系统完全支持PC-DMIS LASER功能
对于一台旧的测量机，这是一次让它重新发光做贡献的机会，通过HEXAGON测量专家的改造，一台旧的测量机即可变为一套高效的扫描测量机。 | 
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