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| 加工定制：否 | 品牌：zeiss | 型号：工业CT断层扫描测量仪 |
| 类型：复合式三坐标测量机 | 定位精度：1（mm） | 外形尺寸：1（mm） |
| 适用范围：1 |
Metrotomgraphy，融合了计量学和层析X射线摄影法，开创了不可预期的可能性。在此之前只能检测或者根本不能进行质量保证检测的场合，现在可以进行高精度和无损测量。 断层扫描分析如同在工件内部测量：所有采集的数据可用于质量保证的范围和进行评估。无损检测技术，例如：装配检查，损伤和气孔分析，材料检验或损坏检查，如同测量评估、逆向工程应用或几何比较一样可行。 重要特征 深思熟虑的设计三维计算机断层扫描分析带有微聚焦X射线管和探测器用于装夹工件的转台和移动系统安全技术全防护的测量间符合DIN54113标准的用于结构类型许可全封闭仪器的防护射线条例(0.5mr/h外罩)符合人体工程学的优化设计（特设的上料位置） 机器技术
微聚焦X射线管高电压：10 – 225 keV电子管电流：5 – 3000 μA目标功率：最大320 W反射角：50°锥角速流发射角：30°锥角焦点尺寸：> 7 μm平板式探测器带有超高敏感性的探测系统1024 x 1024 像素每 400 μm²用于三维CT低失真，数字式无线电复制 |
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