薄膜测厚仪

薄膜测厚仪适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片等各种材料的厚度精确测量。

薄膜测厚仪特征
·机械接触式测量方法，不受测量材料的限制
·进口优质传感器，测量分辨率高达0.1微米
·进口优质传动元件，保证了试验结果的稳定性、准确性
·测量头对薄膜(纸张)的接触面积、接触压力严格遵循相关标准
·特殊结构设计，保证上下测量平面的平行
·灵活、方便的配重方式更能满足范围更宽的测量，非标试验易于实现
·试验数据大屏幕液晶显示，操作按键人性化设计
·可设置手动、自动两种试验模式，测量结果自动统计、打印
·具有电脑通信接口
·兼容ISO、ASTM等多种测量标准

薄膜测厚仪结构组成
薄膜测厚仪主要由控制系统、测量系统、打印输出系统三部分组成。测量系统对薄膜进行测量，并输出相应电信号；控制系统用以参数的设定、修改、传输信号的处理、测量结果的显示等；打印输出系统的功能是统计结果的输出，打印试验结果。

薄膜测厚仪主要技术指标
测量范围：0～2mm(常规)(0～6mm可选)
分 辨 率:0.1μm         
测量速度：10次/min(可调)
测量压力：17.5±1kPa(薄膜)；〔50±1kPa(纸张)〕
接触面积：50mm2(薄膜)；〔200mm2（纸张）〕
电    源：AC　220V，50Hz
外形尺寸：300(L)mm×275(B)mm×300(H)mm
净    重：33kg