激光传感器 ZLDS10X硅片厚度检测

ZLDS10X硅片厚度检测

ZLDS10X系列品牌硅片厚度检测传感器具有数字化集成一体化结构，0.01%高分辨率，0.1%高线性度，9.4KHz高响应、IP67高防护等级和可同步等高性能。工作温度范围宽，硅片厚度检测传感器特别适用于工业环境高精度应用。

可订制各种尺寸的硅片厚度检测传感器，适应恶劣环境，提供了在计算机上运行附带的传感器软件。该软件提供简单的数据读取、显示以及传感器参数设置功能。

硅片厚度检测传感器提供了一个传感器开发库(目前仅支持Windows)，以DLL形式提供，封装底层串口通讯协议细节，提供简单易用的编程接口，便于开发人员快速进行应用软件的开发。

硅片厚度检测传感器产品除标准系列外，还可根据用户的特殊需要定制。如果您不了解产品性能是否能满足您的需要，您可申请样品试用，我们帮您解决试验过程中的问题，直到您满意为止。我公司也可帮您用这种传感器组成测量系统，如零件尺寸、轮廓、厚度等测量系统的软硬件集成。

各型号特点：
ZLDS100：0.01%高分辨率，0.1%高线性度，9.4KHz高响应，可订制各种尺寸，适应恶劣环境。
ZLDS101：0.03%高分辨率，0.1%高线性度,2M大量程，可进行远距离测量。
ZLDS102：0.02%高分辨率,0.1%高线性度,低成本。

广泛用于火车轮轮缘轮廓测量，公路车辙、平整度测量。也可用于非接触测量位移、三维尺寸、厚度、物体形变、振动、分拣及玻璃表面测量等。

硅片厚度检测传感器主要特点：

ZLDS100R-4-39传感器可用于镜面和玻璃的表面测量；

量程最小2mm，最大1250mm(其他量程可订制)；

量程起始距离最小10mm，最大260mm(其他距离可订制)；

频率响应：2K、5K、8K、9.4K；